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金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜國標(biāo)
2013/7/10 [6253]

常規(guī)的X射線測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM,是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在*的條件下進行,XULM配備了可電動調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。 比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行準(zhǔn)確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

XULMX射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析 

設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應(yīng)不同樣品平臺:

XULM 固定平面平臺

XULM XYm 手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

通過強大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。

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